N型組件全面(miàn)“低衰減”！
Published:
2023-11-13 16:35
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老化衰減, 光緻衰減(LID), 熱輔助光緻衰減 (LeTID), 以及電勢誘導衰減(PID)是光伏組件的四種(zhǒng)衰減機理，它們都(dōu)會影響單晶矽電池結構的組件(例如PERC，PERT)發(fā)電性能(néng)。
其中LID和LeTID是業内的關注重點，LID的形成(chéng)主要是由于太陽能(néng)電池收到光照後(hòu)産生的硼氧複合體會降低少數載流子的壽命，導緻功率下降。而LeTID則是在高溫條件下，輔助光照導緻電池效率降低的現象。
P型PERC組件因其⼯藝性質極易受到LID和LeTID的威脅，而N型電池以摻雜磷原子的N型矽片作爲襯底，硼氧複合體少，LID和LeTID對(duì)其的影響微乎其微，這(zhè)也是業界需要轉向(xiàng)N型技術的重要原因之⼀。爲了進(jìn)一步研究N型TOPCon的衰減模式，TÜV北德對(duì)組件進(jìn)⾏了可靠性測試。
測試方法
爲了比較N型組件和P型組件的可靠性，測試序列如下：
a) 評估老化衰減的測試：
冷熱循環TC 200（IEC 61215, - 40°C 至 85°C，200次循環）/400（2倍加嚴）/600（3倍加嚴）
濕熱DH 1000（IEC 61215，溫度85°C，相對(duì)濕度85%， 1000小時）/2000（2倍加嚴）/3000（3倍加嚴）
機械性能(néng)序列（靜載 SML+動載DML+冷熱循環TC50+濕凍循環HF10）
加嚴紫外老化UV90（IEC 61215, IEC TR 63279）
b) 評估光緻衰減的測試 (LID/LeTID)：LID 60kWh（IEC 61215 要求爲5kWh穩定，IEC 63202-1要求爲針對(duì)LID評估至少20kWh以上）、LeTID 192h
c) 評估電勢誘導衰減的測試（PID）：PID 96（IEC 61215）/192（2倍加嚴）/288 （3倍加嚴）
測試結果與分析：
根據測試結果，N型組件在可靠性測試中表現優異，其衰減率均遠遠低于IEC的5%标準，并且衰減率在同一測試條件下均優于P型組件。尤其是在TC、PID和DH基礎和加嚴測試序列中的表現優異。
在60KWh/m2的光照條件下， N型TOPCon組件的LID衰減僅爲0.26%，而PERC組件在相同條件下的衰減率爲1.92%。LeTID測試中，N型TOPCon組件的功率衰減僅爲0.09%，遠遠小于PERC組件1.17%。
UV測試中，N型TOPCon組件和PERC組件在經(jīng)受了90KWh/m2的紫外線照射後(hòu)，其功率衰減分别爲0.60%和2.21%，外觀均無變化。
以上測試結果充分證明了N型組件的可靠性強，這(zhè)得益于品質優異的N型矽⽚和帶來更高效率的TOPCon電池技術，削弱了由B-O複合缺陷引起(qǐ)的LID，帶來了更⻓的少⼦壽命。
此外，N型組件通過(guò)采⽤優異的邊框、玻璃、POE封裝材料，具有出⾊的抗⽼化和抗PID性能(néng)，進(jìn)⼀步提⾼了組件機械性能(néng)和抗水汽滲透能(néng)力。
測試結論
TÜV 北德測試結果表明， N型TOPCon組件即使在嚴苛的環境下，依然保持強大的可靠性和穩定性。這(zhè)使得N型組件成(chéng)爲更可靠和持久的太陽能(néng)發(fā)電解決方案，選擇N型成(chéng)爲目前電站選型的不二之選。
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